Prorektor PWSZ w Głogowie – dr inż. Elżbieta Banaczyk zaprasza na  konferencję:
Możliwości współczesnej metrologii przemysłowej w oparciu o nowoczesne rozwiązania firmy Mahr i MicroVU, 
organizowaną we współpracy z PHU Faktor (www.faktor.net.pl)

Konferencja  odbędzie się w dniu 13 grudnia 2017 roku o godz. 10.00 na terenie PWSZ  w Głogowie.

Zaproszenie do udziału w konferencji kierowane jest do:
– wicedyrektorów odpowiedzialnych za kształcenie zawodowe i nauczycieli przedmiotów zawodowych mechanicznych,
– pracodawców, inżynierów, pracowników kontroli jakości, utrzymania ruchu  i narzędziowni,
– studentów, uczniów szkół technicznych.

Szczegółowy program konferencji:  (kliknij “Czytaj dalej”)

1. Powitanie  – Prorektor PWSZ w Głogowie
2. Prezentacja firmy Faktor – Pachczyński,
3. Pomiary detali produkcyjnych z wykorzystaniem optycznych systemów pomiarowych firmy MicroVU  – F. Pachczyński,
4. Pomiary warsztatowe z wykorzystaniem wysokościomierza 2D firmy Mahr,
5. Zagadnienia teoretyczne pomiarów chropowatości – P.Pachczyński,
6. Cześć praktyczna – warsztaty dla uczestników.

Do dyspozycji uczestników będą następujące przyrządy:

• optyczny cyfrowy system pomiarowy 2D/3D Vertex firmy MicroVu,
• wysokościomierz 2D CLM817 firmy Mahr,
• proste i zaawansowane przyrządy do pomiaru chropowatości firmy Mahr,
• ręczne  przyrządy pomiarowe (suwmiarki, mikrometry, czujniki),
• uniwersalny przyrząd pomiarowy Multimar firmy Mahr  ze szczególnym uwzględnieniem możliwości bezprzewodowego przesyłu danych w celu archiwizacji i dalszej obróbki.