Prorektor PWSZ w Głogowie – dr inż. Elżbieta Banaczyk zaprasza na konferencję:
Możliwości współczesnej metrologii przemysłowej w oparciu o nowoczesne rozwiązania firmy Mahr i MicroVU,
organizowaną we współpracy z PHU Faktor (www.faktor.net.pl)
Konferencja odbędzie się w dniu 13 grudnia 2017 roku o godz. 10.00 na terenie PWSZ w Głogowie.
Zaproszenie do udziału w konferencji kierowane jest do:
– wicedyrektorów odpowiedzialnych za kształcenie zawodowe i nauczycieli przedmiotów zawodowych mechanicznych,
– pracodawców, inżynierów, pracowników kontroli jakości, utrzymania ruchu i narzędziowni,
– studentów, uczniów szkół technicznych.
Szczegółowy program konferencji: (kliknij “Czytaj dalej”)
- Powitanie – Prorektor PWSZ w Głogowie
- Prezentacja firmy Faktor – Pachczyński,
- Pomiary detali produkcyjnych z wykorzystaniem optycznych systemów pomiarowych firmy MicroVU – F. Pachczyński,
- Pomiary warsztatowe z wykorzystaniem wysokościomierza 2D firmy Mahr,
- Zagadnienia teoretyczne pomiarów chropowatości – P.Pachczyński,
- Cześć praktyczna – warsztaty dla uczestników.
Do dyspozycji uczestników będą następujące przyrządy:
- optyczny cyfrowy system pomiarowy 2D/3D Vertex firmy MicroVu,
- wysokościomierz 2D CLM817 firmy Mahr,
- proste i zaawansowane przyrządy do pomiaru chropowatości firmy Mahr,
- ręczne przyrządy pomiarowe (suwmiarki, mikrometry, czujniki),
- uniwersalny przyrząd pomiarowy Multimar firmy Mahr ze szczególnym uwzględnieniem możliwości bezprzewodowego przesyłu danych w celu archiwizacji i dalszej obróbki.