Zaproszenie na seminarium

Opublikowano Autor:
Dyrektor Instytutu Politechnicznego oraz Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Polskich – SIMP
zaprasza  wszystkich Wykładowców i Studentów Państwowej Wyższej Szkoły Zawodowej w Głogowie na:

SEMINARIUM METROLOGICZNE
które odbędzie się 03 kwietnia 2019 roku o godzinie 16.00  (aula 109 budynek A)
Tematem seminarium będzie:
Prezentacja optycznych metod pomiarowych  przy użyciu nowoczesnej mikroskopii cyfrowej na przykładzie mikroskopu VHX-5000 firmy KEYENCE

Możliwości pomiarowe  współczesnych mikroskopów zaprezentuje mgr inż Wojciech Szczepara z firmy KEYENCE

 PROGRAM
                                                                                                                                                                          Organizatorem seminarium jest dr inż Paweł Modzel

SEMINARIUM METROLOGICZNE

ORGANIZATORZY

 
Instytut Politechniczny Państwowej Wyższej Szkoły Zawodowej

w Głogowie

SIMP – Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich

 

 

MIEJSCE:      PWSZ ula 109 budynek A

TERMIN:      03.04.2019r.(środa)

GODZ:          16.00

Program seminarium

 

Prezentacja optycznych metod pomiarowych  przy użyciu nowoczesnej mikroskopii cyfrowej na przykładzie mikroskopu VHX-5000 firmy KEYENCE– mgr Wojciech Szczepara

  •      Obserwacja pod kątem do 90°
  •      Obserwacja poza podstawą- Możliwość przyłożenia do dowolnie dużej próbki i dokonanie analizy powierzchni, za pomocą adaptera zachowującego dystans roboczy.
  •      Nagrywanie wideo,
  •      Automatyczne raportowanie – eksport do pliku Excel, Word
  •     Kompozycja głębi ostrości jednym przyciskiem- wykonywanie w pełni wyostrzonych zdjęć za pomocą funkcji składania zdjęć. System buduje zdjęcie warstwa po warstwie z wyostrzonych pixeli, dzięki czemu obraz zawsze pozostaje ostry.
  •      Pomiary 2D i 3D,
  •      Model 3D,
  •      Automatyczne wykrywanie powiększenia, kąta
  •      Światło przechodzące
  •      HDR – obrazy o wysokiej rozdzielczości, urządzenie rejestruje obraz za pomocą specjalnej funkcji. Dzięki czemu ma znacznie więcej informacji o teksturze, kolorze danej próbki.
  •      Zmotoryzowany ruch w osi XYZ- ponad to automatyczne poruszanie się stolika za pomocą wcześniej zapisanych współrzędnych.
  •      Funkcja nawigacji- zdjęcie poglądowe próbki umożliwiające odnalezienie się na próbce podczas używania dużych powiększeń.

Mikroskop w zależności od wybranej konfiguracji dodatkowo pozwala na:

  • automatyczne dobieranie oświetlenia dla danej próbki- System wykonuje zdjęcia z różnymi ustawieniami świetlnymi, przez co użytkownik może wybrać najlepsze oświetlenie dla swojej próbki.
  • wykonywanie analiz chropowatości zgodnie z normą ISO- bez dotykowy pomiar chropowatości za pomocą skanów 3D powierzchni.
  • przeprowadzanie analiz zanieczyszczeń na sączkach (ISO 16232 oraz VDA 19);
  • automatyczne zliczanie cząstek- automatyczne zliczanie wtrąceń, porowatości na zasadzie kontrastu.
  • analizy metalograficzne (m.in. automatyczne zliczanie wielkości ziaren metodą ASTM);

Partnerzy